晶片晶圆表面缺陷检测灯 黄绿光半导体材料表面检查灯 晶片颗粒缺陷仪 wafer表面检测灯

晶片晶圆表面缺陷检测灯是一款黄绿光半导体材料表面检查灯，可用于检测晶片、晶圆表面缺陷，利用适合的LED灯源，通过光学镜片折射出特殊波长的光源，照在晶片、晶圆表面折射出光路，从而发现表面的缺陷瑕疵。取代传统的照明设备和光学系统机台，直接通过照明光线和肉眼，观测出晶片、晶圆表面表面的瑕疵，极大的节省了一般工厂的采购成本。

黄绿光半导体材料表面检查灯采用人眼最敏感510-590NM之间波长光，来做最简单与明确的判别，可精确检查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有绿光和黄光2种颜色的复合光，几乎可检测出所有尘埃，大大降低产品不良率。使用寿命为2万小时以上。光源强度可达90000LX，最小可以检测1μ的表面脏污，比传统的检查灯，效用增强10倍.

晶片晶圆表面缺陷检测灯
晶片晶圆表面缺陷检测灯规格参数：
型号：桌面式晶圆检查灯，晶片颗粒缺陷仪，wafer表面检测灯
光 源：高亮度的6000K LED加滤光片和光学镜片； LED平均寿命是30000小时
照度：距离45cm → 48000lx；距离30cm → 68000 lx（我们掌握了核心技术，我们可以提供不同照度的平行灯，它们可满足不同客户的要求）
照射面积：  18cm直径的光圈 在40cm的距离
调光方式： 无极调光：从0% ~ 100%；
消耗功率：20 W
电源：采用110-220V电源供电（交流供电），可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性： > 90 ％