简要说明：emmc测试座有两种结构，一种探针结构，使用寿命10万次，可维修，一种为弹片结构，使用寿命2.5万次

随着eMMC标准的广泛运用，eMMC芯片测试和烧录的市场需求非常巨大，我司批量推出了高性价比的eMMC测试

座，可以满足各个厂商的需求。

我司eMMC测试座的主要优点：1、具有良好的兼容性，兼容多个厂家同样封装的IC，并且兼容169-FBGA和

153-FBGA多个尺寸的IC；2、性能稳定，使用寿命长；3、探针可更换，维护维修方便；4、兼容有球和无球

测试，通用性好；5、交期短。

我司现与台湾顶尖烧录专家合作，可以代客烧录各版本的eMMC 芯片，普通烧录厂商无法烧录的eMMC 4.4.1

版本的芯片，尤其是我司的强项，可以为客户专门设计烧录程序和方案，先试烧再合作

产品特点：
A、可直接插SD卡读卡器连接电脑，支持热拔插；
B、同时兼容：东芝（TOSHIBA）、三星（SAMSUNG）、海力士（Hynix）、英特尔（Intel）、Sandisk等所有

同样封装的moviNAND或iNAND等闪存记体；
C、兼容芯片型号有：THGBM1G6D4EBA14、KLM2G1DEDD-A101、SDIN4C2-4G等；并兼容不同容量

1G/2G/4G/8G......
D、导电体采用进口POGO PIN，性能稳定、测试座测试寿命可达10 万次以上，是YAMAICHI 和OKINS 同类的

弹片座子的寿命的5倍以上；并探针可更换，维修方便，成本低；
E、采用翻盖式结构，操作方便，效率高；不同大小IC只要换限位框即可实现不同大小IC的兼容(16x18x0.95

、16x18x0.85、16x12x0.８5)；
F、功能一：对FLASH进行测试，判断IC的好坏，达到筛选IC的目的；
G、功能二：可通过专用量产工具对FLASH进行低级格式化，是SD卡、U盘、SSD、PDA、手机、平板电脑等移

动终端产品厂商的好帮手；
H、如果MMC controller损坏，而IC内部的Flash部分未损坏，可用“基于U盘FLASH夹具”(KZT的另一款产品

)测试FLASH的好坏，实现变废为宝，既环保又降低了成本；

适用芯片示例:
1、THGBM1G6D4EBA14（东芝,TOSHIBA，16x18x0.95mm, pitch=0.5mm） 
２、SDIN4C2-4G(新帝,SanDisk, 16x12x0.85mm, pitch=0.5mm)
IC编号 容量 封装 大小
SDIN4C1-4G 4Gx 8 FBGA169  16x12x0.85mm
SDIN4C1-8G 8Gx 8 FBGA169  16x12x0.85mm
SDIN4C2-8G 8Gx 8 FBGA169  16x12x0.85mm
SDIN3C2-2G 2Gx 8 FBGA169  16x12x0.85mm
SDIN3C2-4G 4Gx 8 FBGA169  16x12x0.85mm
SDIN3C2-8G 8Gx 8 FBGA169  16x12x0.85mm

３、KLM2G1DEDD-A101（三星,SAMSUNG，16x12x0.85mm, pitch=0.5mm）
Density Part number Org PKG PKG size MMC ver Status
1GB KMAFG0000A-S998 x8 153FBGA 11.5x13 MMC4.2 MP
2GB KLM2G1DEFD-A301 x8 169FBGA 12x16 MMC4.3 MP
4GB KLM4G2DEFD-A301 x8 169FBGA 12x16 MMC4.3 MP
4GB KLM4G1DEHM-B101 x8 169FBGA 14x18 MMC4.3 CS
8GB KLM8G4DEFD-A301 x8 169FBGA 12x16 MMC4.3 MP
8GB KLM8G2DEHM-B101 x8 169FBGA 14x18 MMC4.3 CS
16GB KLMAG8DEFD-A301 x8 169FBGA 12x16 MMC4.3 MP
16GB KLMAG4EEHM-B101 x8 169FBGA 14x18 MMC4.3 CS
32GB KLMBG8EEHM-B101 x8 169FBGA 14x18 MMC4.3 CS