薄膜导热测试仪
薄膜导热测试仪
产品价格:(人民币)
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    商品详情

      产品简介

      品牌 价格区间 仪器种类 产地类别 应用领域
      其他品牌面议
      瞬态平面热源法进口
      化工,石油,能源,电子

      Trident薄膜导热分析仪的Flex TPS瞬态平面源即是一种用于表征薄膜材料导热率的新颖工具。 薄膜材料广泛应用于光学和电气保护膜,薄膜光伏电池和薄膜电池等各种领域中。

      详情介绍

      薄膜材料广泛应用于光学和电气保护膜,薄膜光伏电池和薄膜电池等各种领域中。尽管薄膜材料已经存在了数十年,但热导率测量方法传统上一直专注于探索块体材料样品,而表征这些特殊材料的能力相对滞后。近年来,由于热管理非常重要的纳米和微米级制造技术的进一步发展,知识鸿沟逐渐缩小,而Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面源即是一种用于表征薄膜材料导热率的新颖工具。 

      C-Therm Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面热源法传感器,可按照ISO 22007-2标准,用于表征薄膜材料的热传递性质。Flex TPS专门的薄膜模块,可测量厚度为20um ~ 1 mm样品的导热系数和热扩散系数。并且Trident主机,除TPS方法外,还可与MTPS和TLS传感器连用,测试更多不同类型的材料。

       

      技术参数:

       

      MTPS

      Flex TPS

      Needle

      测试方法

      改良瞬态平面热源法

      瞬态平面热源法

      探针法

      导热系数范围

      0 ~ 500 W/mK

      0 ~ 2000 W/mK

      0.1 ~ 6 W/mK

      热扩散系数范围

      0 ~ 300 mm2/s

      0 ~ 1200 mm2/s

      不适用

      比热范围

      ~ 5 MJ/m3K

      ~ 5 MJ/m3K

      不适用

      吸热系数范围

      5 ~ 40,000 Ws1/2/m2K

      不适用

      不适用

      精度

      优于1%

      优于1%

      优于3%

      准确度

      优于5%

      优于5%

      ±(3%+0.02) W/mK

      标准

      ASTM D7984

      ISO 22007-2.2,

      GB/T 32064

      ASTM D5334, D5930, IEEE 442

       

      无论是散热还是绝热,薄膜的导热系数测试都具有非常重要的意义。由于薄膜材料厚度很小, 对声子散射,这使得薄膜材料的表观导热率与块体材料相比,会有很大的差异。传统的实验室测试方法中包含3ω方法,此方法在1989年提出。该方法需先在被测样品表面镀一根薄的金属膜,而此金属膜即是加热装置,同时又是测温装置。对该金属膜通交流电,从而对样品进行加热。因为金属的电阻率会随温度的升高而增大,因此金属膜的温度变化会带来金属膜阻值的温度变化,该阻值与电流的共同作用产生电压。使用锁相放大器提取电压信号,从而建立传热模型。通过改变电流频率,终计算出被测样品的导热系数。但此测试方法操作繁琐,限制条件较多,且无法商业化。

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